壓電納米掃描系統在干涉測量系統中的應用!
干涉測量
干涉測量是基于電磁波的干涉理論,通過(guò)檢測相干電磁波的干涉圖樣、頻率、振幅、相位等屬性,將其應用于各種相關(guān)測量的技術(shù)的統稱(chēng)。用于實(shí)現干涉測量術(shù)的儀器被稱(chēng)作干涉儀。在當今科研領(lǐng)域、工業(yè)領(lǐng)域等,干涉測量術(shù)都發(fā)揮著(zhù)重要作用,包括天文學(xué)、光纖光學(xué)、工程測量學(xué)等。
在干涉測量中常用的工具是邁克爾遜干涉儀,一般可將相干光源的單條入射光束分成兩條相同的光束。每條光束的傳播路徑(稱(chēng)為光程)不同,并在到達探測器之前重新會(huì )合。每條光束的傳播距離不同使它們之間產(chǎn)生相位差。該相位差形成了可通過(guò)探測器捕獲的干涉條紋。如果單條光束沿兩個(gè)光路分開(kāi)(測量光路和參考光路),則利用相位差便可判斷出所有可改變光束相位的因素。
邁克爾遜干涉儀原理圖
干涉物鏡
干涉物鏡就是將顯微鏡物鏡與干涉儀結合起來(lái)設計而成的一種特殊的顯微鏡物鏡。它的原理是一束光通過(guò)分光鏡后,將光直接射向樣品表面和內置反光鏡,從樣品表面反射的光線(xiàn)和內置反射鏡反射的光線(xiàn)再結合,就產(chǎn)生了干涉圖案。
干涉物鏡可用在非接觸光學(xué)壓型測量設備上,通過(guò)此物鏡可得到表面位圖和表面測量參數等,也可用來(lái)檢測表面粗糙度,測量精度非常高,在一個(gè)波長(cháng)之內。
三種干涉物鏡結構圖
Michelson型
Mirau型
Linnik型
壓電納米定位掃描系統應用于多軸籠式干涉系統
系統實(shí)物圖
在系統工作時(shí),通過(guò)納米移動(dòng)臺驅動(dòng)待測樣本表面在垂直方向上均勻、緩慢、連續運動(dòng),改變測量光路與參考光路的光程差。
垂直掃描的過(guò)程中,相機依次獲取一系列的白光干涉圖,通過(guò)三維形貌恢復算法計算并定位出每個(gè)像素點(diǎn)的零光程差位置,即可得到相應的高度信息,從而恢復出待測表面的三維形貌。
通過(guò)下面兩個(gè)視頻可觀(guān)察到,當驅動(dòng)微納米移動(dòng)臺帶動(dòng)樣本在垂直方向上進(jìn)行掃描時(shí),相機采集到的白光干涉條紋隨著(zhù)移動(dòng)臺的掃描而發(fā)生位移。
在該系統中采用的是芯明天P70.Z8S壓電納米掃描臺,它的產(chǎn)品技術(shù)參數如下。
型號:P70.Z8S(直驅機構)
運動(dòng)自由度:Z
行程范圍:8μm(@150V)
傳感器類(lèi)型:SGS
閉/開(kāi)環(huán)分辨率:1/0.6 nm
閉環(huán)線(xiàn)性度:0.25 %F.S.
閉環(huán)重復定位精度: 0.16%F.S.
俯仰/偏航/滾動(dòng):<10 μrad
承載能力:200 g
閉環(huán)響應時(shí)間:20ms
空載諧振頻率:3.6 kHz
加載諧振頻率:1.5kHz(200g)
靜電容量:1.6 μF
重量:128.5 g
哈爾濱芯明天科技有限公司(www.pigbut.com)主營(yíng):壓電促動(dòng)器,壓電移相器,壓電快反鏡,快速刀具定位器
哈爾濱芯明天科技有限公司 版權所有 ICP備案號:黑ICP備16009173號-2 管理登陸 技術(shù)支持:儀表網(wǎng) 網(wǎng)站地圖